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關於wafer的時尚知識

關於wafer的時尚知識

wafer尋邊定位的原理

發表於：2024-02-01

原理：可掃描並收集周圍的AP信號，無論是否加密，是否已連接，甚至信號強度不足以顯示在無線信號列表中，都可以獲取知到AP廣播出來的MAC地址...
wafer測試流程詳解

發表於：2024-01-22

每顆IC在後工序之前都必須進行CP（ChipProber），以驗證產品的功能是否正常，並挑出不良的產品和區分性能等級。CP主要設備包括測試機（Tester）和探針台（Prober）。測試機主要包括測試主機、測試板（DU...

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