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  • wafer尋邊定位的原理
    發表於:2024-02-01
    原理:可掃描並收集周圍的AP訊號,無論是否加密,是否已連線,甚至訊號強度不足以顯示在無線訊號列表中,都可以獲取知到AP廣播出來的MAC地址...
  • wafer測試流程詳解
    發表於:2024-01-22
    每顆IC在後工序之前都必須進行CP(ChipProber),以驗證產品的功能是否正常,並挑出不良的產品和區分效能等級。CP主要裝置包括測試機(Tester)和探針臺(Prober)。測試機主要包括測試主機、測試板(DU...